探討膜厚測(cè)試儀在測(cè)量時(shí)需要注意的事項(xiàng)！

　　膜厚測(cè)試儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

　　臺(tái)式的熒光X射線膜厚測(cè)試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

　　膜厚測(cè)試儀測(cè)量時(shí)需要注意的事項(xiàng)：

　　1、首先大家在用測(cè)量儀進(jìn)行測(cè)試使用時(shí)，要選用與試件相似的金屬磁性標(biāo)準(zhǔn)片來進(jìn)行測(cè)量，不要選擇差別或者區(qū)分過大的標(biāo)準(zhǔn)片來試驗(yàn)測(cè)量，不然會(huì)導(dǎo)致很大的測(cè)量誤差。

　　2、其次用戶需要把測(cè)量儀的側(cè)頭與試樣表面保持垂直，不要出現(xiàn)任何的傾斜，否則不利于測(cè)量工作的順利展開，會(huì)讓測(cè)量任務(wù)半途而廢的，變得毫無意義。

　　3、我們要把膜厚測(cè)量儀放置在沒有磁性干擾的場(chǎng)所來進(jìn)行測(cè)試，否則會(huì)對(duì)儀器的測(cè)量性能造成影響，使得測(cè)量儀器不能夠發(fā)揮出應(yīng)有的測(cè)量水平來。

　　4、用戶在進(jìn)行測(cè)量儀的測(cè)量過程中，需要保持壓力的恒定，不然很容易影響到測(cè)量的讀數(shù)，會(huì)給大家?guī)聿焕挠绊懀尨蠹也荒苡涗浀秸_化的讀數(shù)結(jié)果。

　　5、測(cè)量儀在使用時(shí)要讓儀器測(cè)頭和被測(cè)試件有直接性接觸，如果兩種之間有雜質(zhì)存在的話，需要先進(jìn)行清理方可再展開測(cè)量工作。

　　6、大家在使用膜厚測(cè)量儀進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處進(jìn)行測(cè)量，這樣會(huì)造成測(cè)量結(jié)果的誤差，會(huì)給我們帶來不便性的。讓測(cè)量出來的數(shù)據(jù)是沒有任何參考價(jià)值意義的。